Reliability of Pt ohmic contact on an undoped 3C-SiC micro-electrothermal device

Musaab Hassan*

*المؤلف المقابل لهذا العمل

نتاج البحث: المساهمة في مجلةArticleمراجعة النظراء

1 اقتباس (Scopus)

بصمة

أدرس بدقة موضوعات البحث “Reliability of Pt ohmic contact on an undoped 3C-SiC micro-electrothermal device'. فهما يشكلان معًا بصمة فريدة.

Physics

Engineering

Material Science