Quantifying charge carrier concentration in ZnO thin films by Scanning Kelvin Probe Microscopy

C. Maragliano*, S. Lilliu, M. S. Dahlem, M. Chiesa, T. Souier, M. Stefancich

*المؤلف المقابل لهذا العمل

نتاج البحث: المساهمة في مجلة › Article › مراجعة النظراء

94 اقتباسات (Scopus)

بصمة

أدرس بدقة موضوعات البحث “Quantifying charge carrier concentration in ZnO thin films by Scanning Kelvin Probe Microscopy'. فهما يشكلان معًا بصمة فريدة.

Physics

Material Science