Optical, topographical, and compositional characterization of PtSi/Si Schottky diodes

Patrick G. McCafferty*, Azzouz Sellai, Paul Dawson

*المؤلف المقابل لهذا العمل

نتاج البحث: Conference contribution

5 اقتباسات (Scopus)

بصمة

أدرس بدقة موضوعات البحث “Optical, topographical, and compositional characterization of PtSi/Si Schottky diodes'. فهما يشكلان معًا بصمة فريدة.

Physics

Material Science