Density of surface states in Pd/SiGe/Si interface from capacitance measurements

A. Sellai*, M. Mamor, S. Al-Harthi

*المؤلف المقابل لهذا العمل

نتاج البحث: المساهمة في مجلةArticleمراجعة النظراء

5 اقتباسات (Scopus)

بصمة

أدرس بدقة موضوعات البحث “Density of surface states in Pd/SiGe/Si interface from capacitance measurements'. فهما يشكلان معًا بصمة فريدة.

Physics