Characterization of high-density bit-patterned media using ultra-high resolution magnetic force microscopy

S. N. Piramanayagam*, M. Ranjbar, R. Sbiaa, K. G.A. Tavakkoli, T. C. Chong

*المؤلف المقابل لهذا العمل

نتاج البحث: المساهمة في مجلة › Article › مراجعة النظراء

9 اقتباسات (Scopus)

بصمة

أدرس بدقة موضوعات البحث “Characterization of high-density bit-patterned media using ultra-high resolution magnetic force microscopy'. فهما يشكلان معًا بصمة فريدة.

Material Science

Physics