تخطي إلى التنقل الرئيسي
تخطي إلى البحث
تخطي إلى المحتوى الرئيسي
الصفحة الرئيسية
المساعدة والأسئلة الشائعة
English
العربية
الصفحة الرئيسية
الوحدات البحثية
الملفات الشخصية
نتاج البحث
المشاريع
المعدات
أنشطة
مجموعات البيانات
الصحافة / وسائل الإعلام
الجوائز
التأثيرات
الدورات التدريبية
البحث حسب الخبرة أو الاسم أو الانتماء
Yield in inhomogeneous PtSi-n-Si Schottky photodetectors
A. Sellai
*
, P. Dawson
*
المؤلف المقابل لهذا العمل
Physics
نتاج البحث
:
المساهمة في مجلة
›
Article
›
مراجعة النظراء
7
اقتباسات (Scopus)
معاينة
بصمة
بصمة
أدرس بدقة موضوعات البحث “Yield in inhomogeneous PtSi-n-Si Schottky photodetectors'. فهما يشكلان معًا بصمة فريدة.
فرز حسب
الوزن
أبجديًا
Physics
Electric Potential
100%
Photometer
50%
Thermionic Emission
50%
Capacitance
50%
Distribution Function
50%