X-ray diffraction measurement of residual stress in sol-gel grown lead zirconate titanate thick films on nickel-based super alloy substrate
Hamidreza Hoshyarmanesh, Naser Nehzat, Mehdi Salehi, Mojtaba Ghodsi*
*المؤلف المقابل لهذا العمل
نتاج البحث: المساهمة في مجلة › Article › مراجعة النظراء