Synchrotron X-ray investigation of the layer spacing in a series of low molar mass bi-mesogen organosiloxane smectic materials

Carlo Carboni*, David G. Carboni, Dražan Jozić, Sigrid Bernstorff, Michael Rappolt, Samia Al-Mahrazi

*المؤلف المقابل لهذا العمل

نتاج البحث: المساهمة في مجلةArticleمراجعة النظراء

بصمة

أدرس بدقة موضوعات البحث “Synchrotron X-ray investigation of the layer spacing in a series of low molar mass bi-mesogen organosiloxane smectic materials'. فهما يشكلان معًا بصمة فريدة.

Material Science

Physics