Prediction of the degradation of connection characteristics at elevated temperature
K. S. Al-Jabri*, I. W. Burgess, R. J. Plank
*المؤلف المقابل لهذا العمل
نتاج البحث: المساهمة في مجلة › Article › مراجعة النظراء
28
اقتباسات
(Scopus)