Nanogaps with very large aspect ratios for electrical measurements
A. Fursina*, S. Lee, R. G.S. Sofin, I. V. Shvets, D. Natelson
*المؤلف المقابل لهذا العمل
نتاج البحث: المساهمة في مجلة › Article › مراجعة النظراء
65
اقتباسات
(Scopus)