Investigation of barrier inhomogeneities in Mo/4H-SiC Schottky diodes

L. Boussouar, Z. Ouennoughi*, N. Rouag, A. Sellai, R. Weiss, H. Ryssel

*المؤلف المقابل لهذا العمل

نتاج البحث: المساهمة في مجلةArticleمراجعة النظراء

39 اقتباسات (Scopus)

بصمة

أدرس بدقة موضوعات البحث “Investigation of barrier inhomogeneities in Mo/4H-SiC Schottky diodes'. فهما يشكلان معًا بصمة فريدة.

Physics

Material Science