Dynamic electrostatic force microscopy technique for the study of electrical properties with improved spatial resolution

C. Maragliano*, D. Heskes, M. Stefancich, M. Chiesa, T. Souier

*المؤلف المقابل لهذا العمل

نتاج البحث: المساهمة في مجلة › Article › مراجعة النظراء

18 اقتباسات (Scopus)

بصمة

أدرس بدقة موضوعات البحث “Dynamic electrostatic force microscopy technique for the study of electrical properties with improved spatial resolution'. فهما يشكلان معًا بصمة فريدة.

Physics