Deep-level transient spectroscopy study of the E center in n-Si and partially relaxed n- Si0.9 Ge0.1 alloy layers
M. Mamor*, M. Elzain, K. Bouziane, S. H. Al Harthi
*المؤلف المقابل لهذا العمل
نتاج البحث: المساهمة في مجلة › Article › مراجعة النظراء
6
اقتباسات
(Scopus)