Characterization of optical and morphological properties of chalcone thin films for optoelectronics applications

M. K.M. Ali, A. O. Elzupir, M. A. Ibrahem, I. I. Suliman, A. Modwi, Hajo Idriss, K. H. Ibnaouf^*

^*المؤلف المقابل لهذا العمل

نتاج البحث: المساهمة في مجلة › Article › مراجعة النظراء