Anomalous Hall effect measurements on capped bit-patterned media

M. Ranjbar, S. N. Piramanayagam^*, S. K. Wong, R. Sbiaa, T. C. Chong

^*المؤلف المقابل لهذا العمل

نتاج البحث: المساهمة في مجلة › Article › مراجعة النظراء