What Causes to Tune a Condition of Exactly Identical Fault-Masks Behaviors in an LFSR based BIST Methodology

نتاج البحث: المساهمة في مجلةمراجعة النظراء

اللغة الأصليةEnglish
الصفحات (من إلى)710-717
عدد الصفحات8
دوريةOriental journal of computer science and technology
مستوى الصوت10
رقم الإصدار4
المعرِّفات الرقمية للأشياء
حالة النشرPublished - 2017

قم بذكر هذا