Transmission electron microscope radiation damage of 4H and 6H SiC studied by photoluminescence spectroscopy

J. W. Steeds, G. A. Evans, L. R. Danks, S. Furkert, W. Voegeli, M. M. Ismail, F. Carosella

نتاج البحث: المساهمة في مجلة › Article › مراجعة النظراء