Transmission electron microscope radiation damage of 4H and 6H SiC studied by photoluminescence spectroscopy

J. W. Steeds, G. A. Evans, L. R. Danks, S. Furkert, W. Voegeli, M. M. Ismail, F. Carosella

نتاج البحث: المساهمة في مجلةArticleمراجعة النظراء

71 اقتباسات (Scopus)

بصمة

أدرس بدقة موضوعات البحث “Transmission electron microscope radiation damage of 4H and 6H SiC studied by photoluminescence spectroscopy'. فهما يشكلان معًا بصمة فريدة.

Physics