ملخص
By modifying the shift registers of the commonly used built-in self-test (BIST) scheme, an effective multipurpose testing tool has been realized. The tool is capable of providing maximum enhancement in fault-cover, as well as significant improvement in error coverage.
اللغة الأصلية | English |
---|---|
الصفحات (من إلى) | 875-878 |
عدد الصفحات | 4 |
دورية | International Journal of Electronics |
مستوى الصوت | 66 |
رقم الإصدار | 6 |
المعرِّفات الرقمية للأشياء | |
حالة النشر | Published - يونيو 1989 |
منشور خارجيًا | نعم |
ASJC Scopus subject areas
- ???subjectarea.asjc.2200.2208???