Probing anodic oxidation kinetics and nanoscale heterogeneity within TiO2 films by Conductive Atomic Force Microscopy and combined techniques
M. V. Diamanti*, T. Souier, M. Stefancich, M. Chiesa, M. P. Pedeferri
*المؤلف المقابل لهذا العمل
نتاج البحث: المساهمة في مجلة › Article › مراجعة النظراء
18
اقتباسات
(Scopus)