Probing anodic oxidation kinetics and nanoscale heterogeneity within TiO2 films by Conductive Atomic Force Microscopy and combined techniques

M. V. Diamanti*, T. Souier, M. Stefancich, M. Chiesa, M. P. Pedeferri

*المؤلف المقابل لهذا العمل

نتاج البحث: المساهمة في مجلةمراجعة النظراء

17 اقتباسات (Scopus)

بصمة

أدرس بدقة موضوعات البحث “Probing anodic oxidation kinetics and nanoscale heterogeneity within TiO2 films by Conductive Atomic Force Microscopy and combined techniques'. فهما يشكلان معًا بصمة فريدة.

Engineering

Material Science