High resolution dynamic electrostatic force microscopy technique: Quantifying electrical properties at the nanoscale.

C. Maragliano, D. Heskes, M. Stefancich, M. Chiesa, T. Souier

نتاج البحث: المساهمة في مجلةArticleمراجعة النظراء

بصمة

أدرس بدقة موضوعات البحث “High resolution dynamic electrostatic force microscopy technique: Quantifying electrical properties at the nanoscale.'. فهما يشكلان معًا بصمة فريدة.

Physics