Design of a built-in multi-mode ICs tester with higher testability features—a most suitable testing tool for BIST environment

Afaq Ahmad*, Amer H. Al-Habsi

*المؤلف المقابل لهذا العمل

نتاج البحث: المساهمة في مجلةمراجعة النظراء

4 اقتباسات (Scopus)

ملخص

This paper describes a simple elegant design method to realize a built-in multi-mode ICs tester. The designed tester is capable of providing higher level of testability for testing the circuits in BIST environment. The proposed design approach is demonstrated by implementing the multi-mode tester's design on GAL16V8 chip.

اللغة الأصليةEnglish
الصفحات (من إلى)283-288
عدد الصفحات6
دوريةIETE Technical Review (Institution of Electronics and Telecommunication Engineers, India)
مستوى الصوت15
رقم الإصدار4
المعرِّفات الرقمية للأشياء
حالة النشرPublished - 1998

ASJC Scopus subject areas

  • ???subjectarea.asjc.2200.2208???

بصمة

أدرس بدقة موضوعات البحث “Design of a built-in multi-mode ICs tester with higher testability features—a most suitable testing tool for BIST environment'. فهما يشكلان معًا بصمة فريدة.

قم بذكر هذا