Construction and operation of a simple electronic speckle pattern interferometer and its use in measuring microscopic deformations
K. M. Abedin*, S. A. Jesmin, A. F.M.Y. Haider
*المؤلف المقابل لهذا العمل
نتاج البحث: المساهمة في مجلة › Article › مراجعة النظراء
15
اقتباسات
(Scopus)