Conductive scanning probe microscopy of nanostructured Bi 2Te 3

Tewfik Souier, Guang Li, Sergio Santos, Marco Stefancich, Matteo Chiesa*

*المؤلف المقابل لهذا العمل

نتاج البحث: المساهمة في مجلةمراجعة النظراء

9 اقتباسات (Scopus)

بصمة

أدرس بدقة موضوعات البحث “Conductive scanning probe microscopy of nanostructured Bi 2Te 3'. فهما يشكلان معًا بصمة فريدة.

Physics

Material Science