Barrier characteristics of PtSi/p-Si Schottky diodes as determined from I-V-T measurements

P. G. McCafferty*, A. Sellai, P. Dawson, H. Elabd

*المؤلف المقابل لهذا العمل

نتاج البحث: المساهمة في مجلةArticleمراجعة النظراء

128 اقتباسات (Scopus)

بصمة

أدرس بدقة موضوعات البحث “Barrier characteristics of PtSi/p-Si Schottky diodes as determined from I-V-T measurements'. فهما يشكلان معًا بصمة فريدة.

Physics

Material Science